Journal Title Electronics and Electrical Engineering Journal Abbreviation elt Publisher Group Kaunas University of Technology (KTU) Open Journal Systems (KTU) Website http://www.eejournal.ktu.lt/index.php/elt

PDF (96 kb)

Title	Nuosekliųjų schemų vėlinimo testų generavimas funkciniame lygmenyje
Authors	Bareisa, E.; Jusas, V.; Motiejunas, K.; Seinauskas, R.
Abstract	Nuosekliųjų schemų testavimas yra didžiausia gedimų aptikimo schemose problema. Šiame straipsnyje nagrinėjamas testų, sudarytų funkciniame lygmenyje, pritaikymas struktūrinio lygmens perėjimo gedimams aptikti. Remiantis eksperimentiniais rezultatais, buvo pasiūlytas metodas nuosekliųjų schemų vėlinimo testams generuoti. Straipsnyje pateikti palyginimai su kitais žinomais metodais rodo pasiūlyto metodo efektyvumą. Bibl. 13, lent. 4 (anglų kalba; santraukos anglų ir lietuvių k.).http://dx.doi.org/10.5755/j01.eee.109.3.173
Publisher	Kaunas University of Technology
Date	2011-03-21
Source	Elektronika ir elektrotechnika Vol 109, No 3 (2011)
Rights	Autorių teisės yra apibrėžtos Lietuvos Respublikos autorių teisių ir gretutinių teisių įstatymo 4-37 straipsniuose.

 

See other article in the same Issue