Journal Title Electronics and Electrical Engineering Journal Abbreviation elt Publisher Group Kaunas University of Technology (KTU) Open Journal Systems (KTU) Website http://www.eejournal.ktu.lt/index.php/elt

PDF (393 kb)

Title	Nuoseklių schemų atsitiktinio testų generavimo pagerinimo galimybių tyrimas
Authors	Bareisa, E.; Jusas, V.; Motiejunas, K.; Seinauskas, R.
Abstract	Šiuolaikinės schemos yra labai jautrios vėlinimo gedimams. Naujausi tyrimai rodo, kad funkciniai testai, sukonstruoti remiantis atsitiktiniu testinių rinkinių generavimu, gerai aptinka perėjimo gedimus. Šiame straipsnyje nagrinėjamos atsitiktinio testų generavimo pagerinimo galimybės. Remiantis tyrimais, atliktais su skirtingu vienetukų ir nuliukų pasiskirstymu atsitiktinai sugeneruotame rinkinyje, pasiūlyta testų generavimo proceso valdymo metodika. Įdiegus nevisiškai deterministinius algoritmus, pasirodė, kad, esant tai pačiai skaičiavimo apimčiai atsitiktinės paieškos metu dalinių žingsnių optimizavimas nepagerina galutinio rezultato. Il. 2, bibl. 8, lent. 3 (anglų kalba; santraukos anglų ir lietuvių k.).http://dx.doi.org/10.5755/j01.eee.114.8.685
Publisher	Kaunas University of Technology
Date	2011-11-04
Source	Elektronika ir elektrotechnika Vol 114, No 8 (2011)
Rights	Autorių teisės yra apibrėžtos Lietuvos Respublikos autorių teisių ir gretutinių teisių įstatymo 4-37 straipsniuose.

 

See other article in the same Issue