Testinių segmentų išankstinis atrinkimas funkciniams vėlinimo gedimų testams generuoti nuosekliose schemose
|
| Title | Testinių segmentų išankstinis atrinkimas funkciniams vėlinimo gedimų testams generuoti nuosekliose schemose |
| Authors | |
| Abstract | Šiuolaikinės schemos yra labai jautrios vėlinimo gedimams. Nuoseklioms schemoms testuoti, naudojant kintamus sinchronizacijos dažnius, reikia sudėtingos testavimo įrangos. Todėl pramonėje vėlinimų gedimų tikrinimas dažniausiai remiasi testavimu naudojant schemos darbinį dažnį. Šiame straipsnyje pateiktas naujas gedimų modelis, supaprastintas funkcinis vėlinimo gedimas, ir pasiūlyta testų nuoseklioms schemoms projektavimo procese naudoti du atsitiktinio testų generavimo etapus. Pirmame etape, vadinamame išankstiniu testinių segmentų atrinkimu, testams generuoti naudojamas supaprastintas funkcinis vėlinimo gedimo modelis, o po to antrame etape yra nagrinėjami tiktai atrinkti testiniai segmentai ir jau naudojamas įprastinis funkcinis vėlinimo gedimo modelis. Straipsnyje pateikti eksperimentiniai rezultatai patvirtina pasiūlytojo metodo efektyvumą. Il. 2, bibl. 10, lent. 3 (anglų kalba; santraukos anglų ir lietuvių k.).DOI: http://dx.doi.org/10.5755/j01.eee.118.2.1179 |
| Publisher | Kaunas University of Technology |
| Date | 2012-02-09 |
| Source | Elektronika ir elektrotechnika Vol 118, No 2 (2012) |
| Rights | Autorių teisės yra apibrėžtos Lietuvos Respublikos autorių teisių ir gretutinių teisių įstatymo 4-37 straipsniuose. |