Kamertoninio jutiklio taikymas in situ dinaminės jėgos sąveikai tirti elektroninio skenuojamojo mikroskopo ir elektroninio peršvietimo mikroskopo viduje
|
| Title | Kamertoninio jutiklio taikymas in situ dinaminės jėgos sąveikai tirti elektroninio skenuojamojo mikroskopo ir elektroninio peršvietimo mikroskopo viduje |
| Authors | |
| Abstract | Specialiai sukurtu jėgos jutikliu, naudojančiu kvarco rezonatoriaus kamertoną (TF), in situ tirtos nanometrinių matmenų kontaktų mechaninės savybės. Procesą stebint skenuojamuoju elektroniniu mikroskopu (SEM) ir elektroniniu peršvietimo mikroskopu (TEM) užtikrinta papildoma kontrolė. Pjezoelektrinis manipuliatorius leido užtikrinti tikslų atominių jėgų mikroskopo (AFM) zondo kontakto su kitu elektrodu pozicionavimą, registruoti TF virpesių amplitudę ir fazę ir tuo pačiu metu kontaktinę sritį vizualizuoti elektroniniu mikroskopu. Eksperimentų su SEM metu nustatyta elektrodų elektrostatinė sąveika. TEM sistemoje TF jutiklis veikė šlyties jėgos režimu: naudojant TEM galima tiesiogiai kontroliuoti elektrodų atskyrimą. Darbe aptariamos naujos galimybės naudojant šias priemones in situ tirti nanomechanines sistemas.DOI: http://dx.doi.org/10.5755/j01.ms.18.2.1927 |
| Publisher | Kaunas University of Technology |
| Date | 2012-06-20 |
| Source | Medžiagotyra Vol 18, No 2 (2012) |
| Rights | Copyright terms are indicated in the Republic of Lithuania Law on Copyright and Related Rights, Articles 4-37. The copyright for articles in this journal are retained by the author(s), with first publication rights granted to the journal. By virtue of their appearance in this open access journal, articles are free to use with proper attribution in educational and other non-commercial settings. |